電阻率儀
南北儀器專業(yè)提供實驗室儀器設備一站式解決方案
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SZT-I 平行四刀法 電容器薄膜方塊電阻測試儀
一 、功能與結構特征概述
SZT-I型平行四刀法方阻測試臺
基本功能：SZT-I 型平行四刀法薄膜方阻刀形測試臺，有四個平行刀型測試電極，配以四探針儀器，用以測試柔性半導體薄膜或金屬涂層薄膜方阻。
基本組成：成套測試臺有四個平行刀型測試電極、測試臺架、儀器連接線纜等部件組成。
配套與兼容：本測試臺兼容本公司suo有四探針儀器，如下表主要型號，也可兼容其他大部分廠家四探針儀器。
ST2558A-F02 型薄膜方阻刀形測試臺適用產品部分型號及名稱列表
序號 | 型號 | 名稱 | 備注 |
1 | ST2558A | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試zhuan用 |
2 | ST2558B | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試zhuan用 |
3 | ST2258A | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試zhuan用 |
4 | ST2258B | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試zhuan用 |
5 | ST2253 | 數(shù)字式四探針測試儀 | 柔性薄膜方阻測試zhuan用 |
二、主要技術參數(shù)及說明
1柔性薄膜方阻測試zhuan用
2可測尺寸寬5～100mm,電壓刀距100mm，電流刀距130mm。
3磷銅探刀，接觸良好可靠
4 探刀為可快捷拆換型，方便生產線頻繁使用
5 本公司可為顧客長期代購探針配件，價格優(yōu)惠，服務周到
三、使用方式，請參照各配套測試臺使用方式。
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